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一、簡單介紹
1.測試電壓:50V~5000V
2.測試電壓在50V-1000V的范圍里以10V步進(jìn)遞增,1KV-5KV的范圍里以25V步進(jìn)遞增
3.測試電阻(阻抗)顯示*大讀數(shù)15TΩ,顯示*小讀數(shù)10KΩ
4.短路電流:5mA
5.實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測試電壓,電流和阻抗
6.美國Megger (AVO)絕緣電阻測試儀S1-554/2的詳細(xì)介紹
7.美國Megger (AVO) S1-554/2 5KV絕緣電阻測試儀(高壓兆歐表)
(替代S1-5001、S1-5005)
二、產(chǎn)品特點(diǎn):
1.全新的S1-554/2絕緣電阻測試儀是MEGGER特別設(shè)計(jì), 用來測試和維護(hù)高壓設(shè)備的*佳儀器。
2.雙路電源輸入設(shè)計(jì):可充電電池或主電源輸入。儀器可由220V電源供電,也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測試的場所不清楚是否有電源或者測試周期不清楚的時(shí)候,都可以來進(jìn)行測試。該產(chǎn)品需求量較大,在市場上有一定的影響力,如有需要請電話聯(lián)系我公司
3.數(shù)字/模擬雙顯示測試結(jié)果
4.測試電壓由 50V至5KV可調(diào)
測試電壓在 50V-1000V 的范圍里以10V(步進(jìn))微調(diào),1KV-5V的范圍里以25V(步進(jìn))微調(diào)。
5.絕緣電阻測量測試范圍15TΩ,用于對高質(zhì)量絕緣材料的絕緣趨勢分析等。
6.短路電流:5mA
7.抗干擾:4mA rms
8.絕緣電阻測試儀內(nèi)置五種可設(shè)置工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)絕緣測試程序,可實(shí)現(xiàn)全自動測試,提供全部分析結(jié)果:
9.絕緣電阻測試儀外殼由硬塑聚炳烯制造,由于在生產(chǎn)過程中經(jīng)過特殊處理,因此特別堅(jiān)固耐用,而且輕巧便于攜帶,符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。
10.全新設(shè)計(jì)的背光LCD顯示屏使操作者在陽光下或者光線很暗的情況下輕松讀出數(shù)據(jù)。
11.絕緣電阻測試儀顯示的信息:絕緣阻值,實(shí)時(shí)測試電壓,泄漏電流,等效電容,電池狀態(tài)和時(shí)間常數(shù)。同時(shí),每次測試時(shí)LCD上還會顯示已測試時(shí)間,這就不需要在測試時(shí)額外計(jì)時(shí)。
12.絕緣電阻測試儀內(nèi)置了多個(gè)計(jì)時(shí)器,還具備絕緣測試設(shè)限告警功能。
13.儀器上還帶有一個(gè)接地端子,使儀器能提高其精準(zhǔn)性。
14.儀器的標(biāo)號分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊,方便儲存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。
15.儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。
三、產(chǎn)品功能:
1.內(nèi)置多種自動測試程序:
IR 絕緣電阻測試、
DAR 吸收比測試 (介電吸收率)、
PI 極化指數(shù)測試、
SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測試
DD 測試 (介質(zhì)放電))
2.絕緣電阻*大測試范圍15TΩ,
3.提供USB與RS232接口下載數(shù)據(jù)
4.儀器內(nèi)置32KB存儲器可保存測試結(jié)果:電壓,測試時(shí)間,泄漏電流,阻抗,電容,PI, DAR, DD
四、技術(shù)指標(biāo):
電源 |
95-240V,50/60 Hz 60VA |
電池使用時(shí)間 |
在5KV 狀態(tài)下,可進(jìn)行6小時(shí)連續(xù)測試 |
測試電壓(DC) |
50~1KV到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓
1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓 |
精度 |
± 5% 1TΩ |
(23°C) |
± 20% 10TΩ |
短路電流/ |
5mA |
充電時(shí)間 |
在 5mA / 5kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤1.5 s /μF |
電容放電時(shí)間 |
放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF |
電容測量 |
10nF 到 50μF(取決于測量電壓) |
電容測量精度 |
± 5% ± 5nF |
(23°C) |
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電壓輸出精度 |
基本測試電壓的 +4% @ 1GΩ |
(0°C-30°C) |
±25V非標(biāo)測試電壓(<500V) |
測試電流范圍 |
0.01mA to 5mA |
測量電流精度 |
±5% ±0.2 mA |
(23°C) |
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抗干擾 |
4mA rms @ 200 V |
顯示 |
3位數(shù)字/模擬顯示 |
計(jì)時(shí)器量程 |
99分鐘59秒 |
導(dǎo)線 |
3條(3米)測試導(dǎo)線,帶絕緣夾頭 |
內(nèi)存容量 |
32KB |
其它測試性能 |
IR,PI,DAR,DD,SV |
實(shí)時(shí)輸出 |
能連續(xù)不斷的輸出測試電壓,電流和阻抗 |
傳輸接口 |
RS232 和 USB |
數(shù)據(jù)存儲 |
電壓,測試時(shí)間,泄漏電流,阻抗,電容,PI, DAR, DD |
工作溫度 |
-10°C-+50°C |
儲存溫度 |
-25℃- +65℃ |
濕度 |
90% RH非凝固@40℃ |
保護(hù)等級 |
IP65 |
**標(biāo)準(zhǔn) |
符合EN61010- 1:2001 CATIII 300V |
EMC |
符合EN61326-1:1998 |
外形尺寸 |
305mm ×194 mm ×360 mm |
重量 |
7.1公斤 |
產(chǎn)品持有證書 |
CE |
五、絕緣電阻測試儀測試指標(biāo)名詞解釋
(PI) |
極化指數(shù)測試 |
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極化指數(shù):在同一次試驗(yàn)中,10min時(shí)的絕緣電阻值與1min時(shí)的絕緣電阻值之比。 |
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(DAR) |
感應(yīng)吸收比(誘電吸收比)測試 |
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吸收比:在同一次試驗(yàn)中,60s時(shí)的絕緣電阻值與15s時(shí)的絕緣電阻值之比。 |
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(SV) |
步進(jìn)電壓測試 |
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(DD) |
介質(zhì)放電(誘電體放電) |
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1.絕緣電阻,吸收比,極化指數(shù)之間的關(guān)系
2.當(dāng)說吸收比時(shí),應(yīng)該說到絕緣電阻極化指數(shù)。
3.絕緣電阻:在絕緣結(jié)構(gòu)的兩個(gè)電極之間施加的直流電壓值與流經(jīng)該對電極的泄漏電流值之比。R=U/I,常用單位:(MΩ)兆歐
六、5KV系列絕緣電阻測試儀選型及功能對照表
產(chǎn)品型號 |
MIT510/2 |
MIT520/2 |
S1-552/2 |
S1-554/2 |
絕緣電壓測試范圍 |
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50~5,000V(可步進(jìn)調(diào)節(jié)) |
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250V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)) |
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500V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)) |
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1,000V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)) |
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2,500V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)) |
▲ |
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5,000V(額定不可步進(jìn)調(diào)節(jié)) |
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絕緣測試 |
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絕緣電阻測試顯示范圍(*大顯示數(shù)字讀數(shù)) |
15 T Ω |
15 T Ω |
15 T Ω |
15 T Ω |
絕緣電阻測試顯示范圍(*小顯示數(shù)字讀數(shù)) |
10 k Ω |
10 k Ω |
10 k Ω |
10 k Ω |
絕緣電阻測試顯示范圍(*大顯示模擬讀數(shù)) |
1 T Ω |
1 T Ω |
1 T Ω |
1 T Ω |
絕緣電阻測試顯示范圍(*小顯示模擬讀數(shù)) |
100 k Ω |
100 k Ω |
100 k Ω |
100 k Ω |
功能 |
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*大輸出電流 |
5mA |
5mA |
5mA |
5mA |
短路電流 |
3mA |
3mA |
5mA |
5mA |
抗干擾抑制 |
2mA |
2mA |
2mA |
4mA |
自動進(jìn)行試品IR泄漏電流測試 |
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自動測量絕緣電阻 |
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DAR吸收比測試(介電吸收率) |
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PI 極化指數(shù)測試 |
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SV 步進(jìn)電壓(跨步電壓)測試 |
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DD 測試 (介質(zhì)放電)測量 |
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內(nèi)置定時(shí)器器 |
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內(nèi)置32KB存儲器 |
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RS232 USB 通訊接口 |
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顯示 |
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數(shù)字和模擬雙重顯示 |
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顯示測試電壓 |
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顯示試品充電時(shí)間 |
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顯示充電電流 |
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顯示時(shí)間 |
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